Ramesham, R. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.