Ramesham, R. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..