Ramesham, R. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Цитирование MLA (9-е изд.)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.