Ramesham, R. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II. SPIE Digital Library.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.