Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Ramesham, Rajeshuni
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 1/16/03
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Descripció
Descripció de l’ítem:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Descripció física:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9780819447807
Accés:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students