Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II

Bibliografiske detaljer
Andre forfattere: Ramesham, Rajeshuni
Format: Electronisk eBog
Sprog:engelsk
Udgivet: SPIE Digital Library, 1/16/03
Fag:
Online adgang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Lignende værker