Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Ramesham, Rajeshuni
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 1/16/03
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy