Tobin, K. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.