Tobin, K. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.