Tobin, K. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..