Цитирование APA (7-е изд.)

Tobin, K. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.

Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)

Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.

Цитирование MLA (9-е изд.)

Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.