Tobin, K. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Tobin, Kenneth. Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.