Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Meyendorf, Norbert
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 7/22/03
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak