Gorecki, C. Microsystems Engineering: Metrology and Inspection III. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Gorecki, Christophe. Microsystems Engineering: Metrology and Inspection III. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Gorecki, Christophe. Microsystems Engineering: Metrology and Inspection III. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..