Gorecki, C. Microsystems Engineering: Metrology and Inspection III. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Gorecki, Christophe. Microsystems Engineering: Metrology and Inspection III. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Gorecki, Christophe. Microsystems Engineering: Metrology and Inspection III. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.