Microsystems Engineering: Metrology and Inspection III

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Gorecki, Christophe
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 10/3/03
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր