Duparré, A. Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Duparré, Angela. Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Duparré, Angela. Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.