Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Duparré, Angela
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 1/1/03
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Παρόμοια τεκμήρια