Batchelor, B. Two- and Three-Dimensional Vision Systems for Inspection, Control, and Metrology. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Batchelor, Bruce. Two- and Three-Dimensional Vision Systems for Inspection, Control, and Metrology. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Batchelor, Bruce. Two- and Three-Dimensional Vision Systems for Inspection, Control, and Metrology. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.