Tanner, D. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.