APA-ийн эшлэл(7 дахь хэвлэлт)

Tanner, D. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)

Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)

Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.