Tanner, D. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
Citação norma ChicagoTanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
Citação norma MLATanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.