APA-referens (7:e uppl.)

Tanner, D. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

Chicago-referens (17:e uppl.)

Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

MLA-referens (9:e uppl.)

Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.