Tanner, D. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.