Trích dẫn kiểu APA (xuất bản lần thứ 7)

Tanner, D. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)

Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)

Tanner, Danelle. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III. SPIE Digital Library.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.