Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III

Номзүйн дэлгэрэнгүй
Бусад зохиолчид: Tanner, Danelle
Формат: Цахим Цахим ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: SPIE Digital Library, 12/23/03
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Тодорхойлолт
Зүйлийн тодорхойлолт:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Биет тодорхойлолт:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9780819452511
Хандалт:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students