Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III

Бібліографічні деталі
Інші автори: Tanner, Danelle
Формат: Електронний ресурс eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: SPIE Digital Library, 12/23/03
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Опис
Опис примірника:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Фізичний опис:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9780819452511
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students