Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Tanner, Danelle
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: SPIE Digital Library, 12/23/03
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

مواد مشابهة