Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III

Bibliografiske detaljer
Andre forfattere: Tanner, Danelle
Format: Electronisk eBog
Sprog:engelsk
Udgivet: SPIE Digital Library, 12/23/03
Fag:
Online adgang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Lignende værker