Цитирование APA (7-е изд.)

Tanner, D. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV. SPIE Digital Library.

Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)

Tanner, Danelle. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV. SPIE Digital Library.

Цитирование MLA (9-е изд.)

Tanner, Danelle. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV. SPIE Digital Library.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.