Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Tanner, Danelle
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 1/22/05
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Opis
Deskrypcja:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Opis fizyczny:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9780819456908
Ograniczenie dostępu:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students