Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Tanner, Danelle
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 1/22/05
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր