Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV

Bibliografiske detaljer
Andre forfattere: Tanner, Danelle
Format: Electronisk eBog
Sprog:engelsk
Udgivet: SPIE Digital Library, 1/22/05
Fag:
Online adgang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Lignende værker