Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Geer, Robert
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 5/9/05
Schlagworte:
Online-Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Beschreibung
Beschreibung:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Beschreibung:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9780819457479
Zugangseinschränkungen:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students