Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Geer, Robert
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 5/9/05
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Φυσική περιγραφή:1 online resource
Μορφή:Mode of access: Internet
ISBN:9780819457479
Πρόσβαση:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students