Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Geer, Robert
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 5/9/05
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
תיאור
תאור פריט:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
תיאור פיזי:1 online resource
פורמט:Mode of access: Internet
ISBN:9780819457479
גישה:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students