Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

ग्रंथसूची विवरण
अन्य लेखक: Geer, Robert
स्वरूप: इलेक्ट्रोनिक ई-पुस्तक
भाषा:अंग्रेज़ी
प्रकाशित: SPIE Digital Library, 5/9/05
विषय:
ऑनलाइन पहुंच:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
विवरण
वस्तु वर्णन:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
भौतिक वर्णन:1 online resource
स्वरूप:Mode of access: Internet
आईएसबीएन:9780819457479
अभिगमन:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students