Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Номзүйн дэлгэрэнгүй
Бусад зохиолчид: Geer, Robert
Формат: Цахим Цахим ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: SPIE Digital Library, 5/9/05
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Тодорхойлолт
Зүйлийн тодорхойлолт:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Биет тодорхойлолт:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9780819457479
Хандалт:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students