Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Geer, Robert
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: SPIE Digital Library, 5/9/05
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Omschrijving
Beschrijving item:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fysieke beschrijving:1 online resource
Formaat:Mode of access: Internet
ISBN:9780819457479
Toegang:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students