Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Geer, Robert
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 5/9/05
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Opis
Deskrypcja:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Opis fizyczny:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9780819457479
Ograniczenie dostępu:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students