Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Библиографические подробности
Другие авторы: Geer, Robert
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 5/9/05
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Описание
Примечание:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Объем:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9780819457479
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students