Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Geer, Robert
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: SPIE Digital Library, 5/9/05
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fiziksel Özellikler:1 online resource
Materyal Türü:Mode of access: Internet
ISBN:9780819457479
Erişim:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students