Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Geer, Robert
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 5/9/05
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars