Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Geer, Robert
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 5/9/05
Schlagworte:
Online-Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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