Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Geer, Robert
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 5/9/05
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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