Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Geer, Robert
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 5/9/05
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak