Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Geer, Robert
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 5/9/05
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Samankaltaisia teoksia