Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Geer, Robert
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 5/9/05
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים