Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Geer, Robert
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 5/9/05
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy