Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Бібліографічні деталі
Інші автори: Geer, Robert
Формат: Електронний ресурс eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: SPIE Digital Library, 5/9/05
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Схожі ресурси